ORTEC在高纯锗（HPGe）和Si（Li）探测器的制造上有着四十多年的历史，这一方面的创造性进展几乎都由ORTEC完成。多年来，ORTEC的探测器种类不断丰富，性能不断提高，在探测效率上，能提供相对效率200%的P型同轴探测器，175%的P型优化（“宽能”）同轴探测器和100%效率的N型探测器，为不同领域内有着各自应用背景或样品特性要求的用户提供了最广泛与实用的选择。